Automatische optische Inspektion von Leiterplatten

Zur Bestückungskontrolle von Leiterplatten wurde ein automatisches optisches Inspektionssystem (AOI) entwickelt, das eine Vielzahl an Merkmalen erfasst.

Tombstoning (Grabsteineffekt)
Zinnspritzer auf Baugruppe
Bauteile nicht vorhanden, verdreht etc.
Prüfung auf verbogene Pins (Pinabstand min. 0,4mm)
Farbkennzeichnungen auf Bauteilen

Keyfacts der Leiterplattenkontrolle:

max. Breite 460mm
kleinster Bauteil 02-01 -> 0,6×0,3mm
Schnittstelle zwischen Einzelgeräten: SMEMA
Stand-alone oder Inline möglich

Die 3D-Modellerstellung erfolgt durch die Datenaufnahme eines golden Samples, welches zuvor von einem Mitarbeiter manuell kontrolliert werden muss. Wird das golden Sample als gut befunden, wird eine 3D-Punktewolke aufgenommen und ein 3D CAD Modell erstellt. Ebenso wird mit einer 2D Zeilenkamera ein Farbbild der Leiterplatte aufgenommen. Anhand dieses Farbbildes werden die Prüfkriterien in der Software ausgewählt.

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