Automatische optische Inspektion von Leiterplatten

Zur Bestückungskontrolle von Leiterplatten wurde ein automatisches optisches Inspektionssystem (AOI) entwickelt, das eine Vielzahl an Merkmalen erfasst.

• Tombstoning (Grabsteineffekt)
• Zinnspritzer auf Baugruppe
• Bauteile nicht vorhanden, verdreht etc.
• Prüfung auf verbogene Pins (Pinabstand min. 0,4mm)
• Farbkennzeichnungen auf Bauteilen

Keyfacts der Leiterplattenkontrolle:

• max. Breite 460mm
• kleinster Bauteil 02-01 -> 0,6×0,3mm
• Schnittstelle zwischen Einzelgeräten: SMEMA
• Stand-alone oder Inline möglich

Die 3D-Modellerstellung erfolgt durch die Datenaufnahme eines golden Samples, welches zuvor von einem Mitarbeiter manuell kontrolliert werden muss. Wird das golden Sample als gut befunden, wird eine 3D-Punktewolke aufgenommen und ein 3D CAD Modell erstellt. Ebenso wird mit einer 2D Zeilenkamera ein Farbbild der Leiterplatte aufgenommen. Anhand dieses Farbbildes werden die Prüfkriterien in der Software ausgewählt.

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Markus Piffer
Experte Industrielle Bildverarbeitung
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